Yen-Wei Chen: Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms, Gebunden

Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms

Buch
  • Theory and Practice
lieferbar innerhalb 2-3 Wochen
(soweit verfügbar beim Lieferanten)
Vorheriger Preis EUR 164,28, reduziert um 6%
Aktueller Preis: EUR 153,32

Der Artikel Yen-Wei Chen: Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms wurde in den Warenkorb gelegt.

Zum Warenkorb Weiter einkaufen

Mehr von Yen-Wei Chen

Yen-Wei Chen: Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms, Buch
Yen-Wei Chen, Rahul Kumar Jain, Xiang Ruan
Recent Advances in Logo Detection Using Machine Learning Paradigms
Vorheriger Preis EUR 164,28, reduziert um 6%
Aktueller Preis: EUR 153,32

Sicherheits- und Herstellerinformationen

Herstellerinformationen

Springer International Publishing