Shreya Patel: AI und maschinelles Lernen in der Kephalometrie: Verbesserte Diagnose und Automatisierung, Kartoniert / Broschiert
AI und maschinelles Lernen in der Kephalometrie: Verbesserte Diagnose und Automatisierung
Buch
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Aktueller Preis: EUR 43,90
- Verlag:
- Verlag Unser Wissen, 04/2025
- Einband:
- Kartoniert / Broschiert
- Sprache:
- Deutsch
- ISBN-13:
- 9783639678895
- Artikelnummer:
- 12269324
- Umfang:
- 84 Seiten
- Gewicht:
- 143 g
- Maße:
- 220 x 150 mm
- Stärke:
- 6 mm
- Erscheinungstermin:
- 15.4.2025
Klappentext
In dieser Rezension werden KI und maschinelles Lernen in der kephalometrischen Analyse untersucht, wobei der Schwerpunkt auf Automatisierung, diagnostischer Genauigkeit und Behandlungsoptimierung liegt. Eine PRISMA-ScR-basierte Literatursuche (2017-2024) in mehreren Datenbanken identifizierte relevante Studien. Dreizehn von 174 Artikeln erfüllten die Einschlusskriterien und umfassten verschiedene Studientypen. Die meisten bestätigten die Zuverlässigkeit der KI bei der kephalometrischen Analyse. KI und maschinelles Lernen verbessern die kephalometrische Analyse durch höhere Genauigkeit und Effizienz, was der kieferorthopädischen Versorgung zugute kommt.
Anmerkungen:
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