Hakan Kuntman: Reliability of CMOS Analog ICs, Gebunden
Reliability of CMOS Analog ICs
Buch
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(United States of America): EUR 19,90
- Verlag:
- Springer, 06/2025
- Einband:
- Gebunden
- Sprache:
- Englisch
- ISBN-13:
- 9783031854545
- Artikelnummer:
- 12324125
- Umfang:
- 108 Seiten
- Gewicht:
- 334 g
- Maße:
- 241 x 160 mm
- Stärke:
- 12 mm
- Erscheinungstermin:
- 13.6.2025
- Hinweis
-
Achtung: Artikel ist nicht in deutscher Sprache!
Klappentext
This book presents recent advances in reliability investigation of MOS transistors and their applications. Theory and experimental results are discussed, in order to demonstrate the efficacy of the techniques presented. Readers will be enabled to improve their designs in application areas of analog signal processing, ranging from very low frequencies at several Hz levels of biomedical signals to RF applications operating at GHz level, from EEG signals to cognitive radio and encrypted communications or low-noise amplifiers in wireless communications.
- Presents recent advances in statistical method based reliability estimation of MOS transistors;
- Includes discussion of theory and experimental results, in order to demonstrate efficacy of techniques presented;
- Discusses design examples for specific application areas, enabling readers to follow recent advances and trends.
Hakan Kuntman, Deniz Özenli, F¿rat Kaçar, Yasin Özçelep
Reliability of CMOS Analog ICs
Aktueller Preis: EUR 109,51
