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    Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications, Kartoniert / Broschiert

    Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications

    Buch
    Titel: Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications. Autoren: Krzysztof (Kris) Iniewski, Liang (Kevin) Cai. Verlagslogo.
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    Aktueller Preis: EUR 142,37

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    Herausgeber:
    Krzysztof Iniewski (Kris), Liang Cai (Kevin)
    Verlag:
    Springer, 01/2026
    Einband:
    Kartoniert / Broschiert
    Sprache:
    Englisch
    ISBN-13:
    9783031756559
    Artikelnummer:
    12875782
    Umfang:
    272 Seiten
    Gewicht:
    417 g
    Maße:
    235 x 155 mm
    Stärke:
    15 mm
    Erscheinungstermin:
    23.1.2026
    Hinweis

    Achtung: Artikel ist nicht in deutscher Sprache!
    Titel: Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications. Autoren: Krzysztof (Kris) Iniewski, Liang (Kevin) Cai. Verlagslogo., Buch
    Deep Learning for Advanced X-ray Detection and Imaging Applications
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    Tiergartenstr. 17
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