Chia-Wei Chen: Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces, Kartoniert / Broschiert
Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
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(United States of America): EUR 19,90
- Verlag:
- Karlsruher Institut für Technologie, 04/2025
- Einband:
- Kartoniert / Broschiert
- Sprache:
- Englisch
- ISBN-13:
- 9783731514022
- Artikelnummer:
- 12280417
- Umfang:
- 210 Seiten
- Nummer der Auflage:
- 25001
- Ausgabe:
- 1. Auflage
- Gewicht:
- 312 g
- Maße:
- 210 x 148 mm
- Stärke:
- 14 mm
- Erscheinungstermin:
- 29.4.2025
- Hinweis
-
Achtung: Artikel ist nicht in deutscher Sprache!
Klappentext
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces.
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Chia-Wei Chen
Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces
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